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智能介質(zhì)損耗測試儀
- 產(chǎn)品名稱:智能介質(zhì)損耗測試儀
- 產(chǎn)品型號:SB2204/03
- 產(chǎn)品廠商:
- 產(chǎn)品文檔:
智能介質(zhì)損耗測試儀
的詳細(xì)介紹
額定工作條件:溫度:0~40℃ 相對濕度:30%~85% 供電電源:電壓:220V±22V,頻率: 50±1Hz
外形尺寸:l×b×h,mm:440×330×400 重量:不大于23kg 功耗:不大于40VA
測量范圍::介質(zhì)損耗(tgδ):0~1 分辨率0.0001
電容量(Cx): *小分辨率0.01pF
內(nèi)接方式:試驗電壓 試品電容量
5kV 7.5kV 10kV 3pF~40000PF
1.5kV 2.25kV 3k 10pF~0.35μF
0.5kV 0.75kV 1kV 30pF~1.5μF
外接方式: “外接升壓器”方式*高試驗電壓10kV
“外接Cn”方式(外接高壓、外接標(biāo)準(zhǔn)電容器)*高試驗電壓由標(biāo)準(zhǔn)電容器和被試品決定(Umax=Imax/ωC)
標(biāo)準(zhǔn)回路*大電流50mA(In=UωCn) 被試回路*大電流2A(Ix=UωCx)
內(nèi)部升壓器輸出能力: 輸出電壓 額定輸出電流
5kV 7.5kV 10kV 100mA
1.5kV 2.25kV 3kV 300mA
0.5kV 0.75kV 1kV 500mA
基本測量誤差:
測量內(nèi)容 tgδ范圍 電容量范圍(Cx) 試品類型 基 本 誤 差
介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ 0~0.5 50pF~60000pF 非接地 ±(1%讀數(shù)+0.0005)
接地 ±(1%讀數(shù)+0.0010)
10pF~50pF或60000pF以上 非接地 ±(1%讀數(shù)+0.0010)
接地 ±(2%讀數(shù)+0.002)
3pF~10pF 非接地與接地
電容量 50pF以上 ±(1%讀數(shù)+1pF)
50pF以下 ±(1%讀數(shù)+2pF)
工作原理
儀器測量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路被試回路,標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與采樣電路組成,被試回路由被試品和采樣電路組成。由8031單片機運用計算機數(shù)字化實時采集方法,對數(shù)以萬計的采樣數(shù)據(jù)處理后進行矢量運算,分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位關(guān)系,并由之算出試品的電容值(Cx)和介質(zhì)損耗角正切(tgδ),測量結(jié)果可靠?,F(xiàn)場有干擾時,先利用移相、倒相法減小干擾的影響,再將被試回路測得的電流Ix′與單獨測得的干擾電流Id矢量相加,得到真正的測量電流Ix,進而得出正確的測量結(jié)果。由圖3可見,可根據(jù)不同的測量對象和測量需要,靈活地采用多種接線方式。如測量非接地試品(正接法)時,“LV”(E)點接地;而測量接地試品(反接法)時,則“HV”點接地。